準確成像, 無(wú)交叉耦合現象 業(yè)界*的XYZ軸線(xiàn)性度，樣品和探針?lè )謩e由獨立的柔性制導掃描器控制移動(dòng) Z低的平面偏移度，全程水平掃描時(shí)平面偏移量不超過(guò)1納米 垂直掃描器全程伸縮時(shí)，線(xiàn)性度優(yōu)于0.015% 優(yōu)化的水平掃描器ringing現象, 科學(xué)的正向sine-scan算法 原子力顯微鏡

- 原子力顯微鏡（AFM）有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。 - 納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡（SICM）。 - 倒置光學(xué)顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

在同級產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來(lái)Z高納米級分辨率的測量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構，即獨立的XY軸和Z軸柔性?huà)呙杵?，XE7能夠實(shí)現平滑、正交且線(xiàn)性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。此外，Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來(lái)*的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會(huì )受影響。